精密低阻測量
　　在低電流電路中，機電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問題。HP 4338B提供可選擇的低交流測試信號(1μA~10mA)。用戶目前可在低電流的條件下來表征機電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來確定繼電器、開關(guān)、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測試中的微小差別。1kHz測試信號消除了由熱電對被測元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測試信號是檢查電池內(nèi)阻的方法，因為它避免了直流能量的消耗。

高速測量
　　高速(34ms)內(nèi)設(shè)比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動處理器和外部計算機構(gòu)成一個測量系統(tǒng)，使生產(chǎn)測試時間縮短到zui低限度。

自動測量方式
　　在進(jìn)行大量連續(xù)的測試、而測試信號電平又不是很主要的因素時，自動測量功能會使儀器選擇合適的測試信號并設(shè)定測量范圍。

技術(shù)指標(biāo):

測量功能
測量參數(shù)：R(交流電阻)，X(電抗)，L(電感)，|Z|(阻抗)，θ(相位[°])
組合參數(shù)：R，R-X，R-L，Z-θ(只適用于串聯(lián)模式)
數(shù)學(xué)功能：偏差和相對偏差(以百分比表示)
顯示數(shù)字：3.4或5位(可選擇)
測試信號
測試頻率：1kHz
頻率精度：±0.1 ％
測試信號電平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms
電平精度：±(10％+0.2μA)
樣品兩端的zui大電壓：在任何情況下zui大為20mV峰值
測量范圍
　參數(shù)　　　測量范圍
　R　　　　 10μΩ～100kΩ
　X,|Z|　　 10μΩ～100kΩ (典型值)
　L　　　　 10nH～10H(典型值)
　θ　　　　 -180°～+180°(典型值)
測量精度：R的基本精度為±0.4 ％
測量時間：從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結(jié)束測量(EOM)信號輸出的時間間隔
模式　　時間(典型值)
短　　　34ms
中等　　70ms
長　　　900ms
修正功能
短路誤差為0：消除由測試夾具中雜散寄生阻抗引的測量誤差

比較功能
對每個一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)設(shè)立高/符合/低界限

接觸檢查功能
可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障

其它功能
疊加直流：在測量端可能給出±42Vdc(zui大值)
存儲/調(diào)用：可以由內(nèi)部非易失存儲器對10種儀器設(shè)置進(jìn)行存儲/調(diào) 用
連續(xù)存儲功能：若儀器被切斷或發(fā)生電源故障，儀器設(shè)置將自動被存 儲起來(在23±5℃時≤72小時)
HP-IB接口：所有控制設(shè)置、被測值和比較器信息
處理器接口：所有輸出信號為負(fù)邏輯，光隔離開路集電極
輸出信號包括：高/符合/低、變址，測量結(jié)束和告警。輸入信號是健鎖定和外觸發(fā)

一般指標(biāo)
電源要求：198～264V，47～66Hz,45VAmax
工作溫度：0°～45℃
尺寸：320mm(寬)×100mm(高)×300mm(長)
重量：4.5kg
訂貨信息

選件
　Opt ABA 英文版手冊
　Opt ABJ 日文版手冊
　Opt OBO 省去操作手冊
　Opt W30 擴(kuò)大的維修服務(wù)
16338A 測試引線套件
16143B1 配對電纜(0.6m)
16005B2 Kelvin 線夾測試引線(0.4m,帶大的線夾)
16005C3 Kelvin IC線夾測試引線(0.4m,帶IC的線夾)
16005D3 Kelvin IC線夾測試引線(0.4m,帶黑色I(xiàn)C的線夾)
16044A SMD Kelvin接觸測試夾具
16006A4 針式探頭測試引線(0.4m)
16007A5 鱷魚夾測試引線(0.4m,帶2個紅色線夾)
16007B5 鱷魚夾測試引線(0.4m,帶2個黑色線夾)
16064B LED顯示器/觸發(fā)盒
｛1當(dāng)利用16005B/C/D、16006A和16007A/B時需要；
　2需要一對16005B進(jìn)行測量；
　3與16005C(1個)和16005D(1個)配用;
　4需要一對16006A進(jìn)行測量
　5與16007A(1個)和16007B(1個)配用｝